No. |
Questões | [Ref] |
1 | Dos seguintes métodos de inspeção não destrutiva, qual não emprega o principio de eletromagnetismo? | [EC01] |
a) Correntes Parasitas | ||
b) Partículas Magnéticas | ||
c) Ultrassom | ||
d) Campo de Fuga | ||
2 | Correntes Parasitas são criadas pelo processo de _____________________________ . | [EC01] |
a) atração molecular | ||
b) atração interatômica | ||
c) indução eletromangnética | ||
d) geração de corrente | ||
3 | Qual das seguintes afirmações não é uma aplicação do ensaio de correntes parasitas? | [EC01] |
a) Medição de espessura de materiais grossos | ||
b) Detecção de trincas superficiais | ||
c) Medição de condutividade aplicada a identificação de materiais e ligas metálicas | ||
d) Medição de espessura de revestimentos metálicos sobre bases não metálicas | ||
4 | Qual das seguintes afirmações não é uma limitação do ensaio de correntes parasitas? | [EC01] |
a) Inspeciona apenas materiais condutores de eletricidade | ||
b) Sonda de ensaio não precisa necessariamente "tocar" o objeto ensaiado | ||
c) Acabamento superficial e rugosidade pode interferir no resultado | ||
d) Profundidade de penetração limitada | ||
5 | Qual a relação entre a condutividade elétrica e a resistividade elétrica? [What is the relationship between electrical conductivity and electrical resistivity?] | [EC02] |
a) Uma é o inverso da outra [One is the inverse of the other] | ||
b) Elas são identicas [They are directly proportional] | ||
c) Elas não estão relacionadas [They are not related] | ||
d) Vai depender da frequência do ensaio [It depends on the test frequency] | ||
6 | O ensaio de corrrentes parasitas tem sua origem com a descoberta de_________________ a indução eletromagnética em 1831. | [EC02] |
a) Hans Christian Oersted | ||
b) Michael Faraday | ||
c) David Edward Hughes | ||
d) Emil Lenz | ||
7 | Qual das seguintes não é uma aplicação do ensaio de correntes parasitas? | [EC03] |
a) É empregado na indústria siderúrgica para monitorar a espessura final de chapas grossas de aço. | ||
b) Em trocadores de calor e condensadores e produtos laminados, pode ser utilizado para medir a espesura do material. | ||
c) É usado para medir a espessura de tintas e revestimentos em substratos metálicos. | ||
d) É empregada para detectar e medir corrosão em chapas de fuselagem de aviões. | ||
8 | Com relação às propriedades da eletricidade associe os itens com números aos itens com letras. 1 Eletricidade 2 Amperagem 3 Força eletromotriz 4 Volt 5 Resistência elétrica A Unidade de medida da diferença de potêncial elétrico B Força que faz com que os elétrons se movam em um circuito elétrico C Movimento direcional de elétrons entre os átomos devido a algum desequilíbrio de força D Oposição de um corpo ou substância ao fluxo de corrente elétrica através dele E Unidade de medição do fluxo de elétrons | [EC04] |
a) 1&A - 2&B - 3&C - 4&D - 5&E | ||
b) 1&C - 2&E - 3&B - 4&A - 5&D | ||
c) 1&E - 2&D - 3&B - 4&A - 5&C | ||
d) 1&B - 2&C - 3&A - 4&D - 5&E | ||
9 |
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[EC05] |
a) Se a tensão for aumentada, a corrente também aumentará, desde que a ressitência do circuito não mude. | ||
b) Aumentar a resistência do circuito diminuirá o fluxo de corrente se a tensão não for alterada. | ||
c) O aumento da resistência elétrica e da corrente que circula no circuito implica na diminuição da tensão aplicada | ||
d) Aumentar a corrente elétrica que flui no circuito elétrico implica na diminuição da resistência elétrica para manter a mesma força eletromotriz aplicada. | ||
10 | Indutância é identificada pela letra [nductance is identified by the letter:] | [EC06] |
a) M [M] | ||
b) L [L] | ||
c) Z [Z]
|
||
d) X [X] | ||
11 |
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[EE06 ] |
a) Pela interação de um campo magnético variável com um condutor [The interaction of a changing magnetic field with a conductor] | ||
b) Resistência da bobina [Resistance in the coil] | ||
c) Corrente contínua [Direct current] | ||
d) Nenhum dos demais [None of the above] | ||
12 |
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[EC06] |
a) Faraday - Henry e Oersted | ||
b) Oersted - Faraday e Henry | ||
c) Faraday - Oersted e Henry | ||
d) Henry- Faraday e Oersted | ||
13 |
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[EC13] |
a) Resistência | ||
b) Indutância | ||
c) Resistividade | ||
d) Capacitância | ||
14 |
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[EC07] |
a) Lei de Lenz para um fio reto | ||
b) Lei de Lenz para uma bobina | ||
c) Lei de Faraday para uma bobina | ||
d) Lei de Faraday para um fio reto | ||
15 |
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[EC07] |
a) reatância indutiva - bobinas | ||
b) resistividade - resistências | ||
c) reatância capacitiva - capacitores | ||
d) relutância - imãs | ||
16 |
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[EE07] |
a) em fase | ||
b) defasadas | ||
c) com a corrente atrasada em relação a tensão | ||
d) com a tensão defasada em relação a corrente | ||
17 |
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[EC08] |
a) Domínio magnético é uma região do material na qual os campos magnéticos dos átomos estão agrupados e alinhados. | ||
b) Quando o material é submetido a um campo magnético externo, os domínios magnéticos são afetados e passam a se orientar na direção contrária do campo magnético externo para impedir a sua magnetização. | ||
c) Quando o material é submetido a um campo magnético externo, os domínios magnéticos são afetados e passam a se orientar na direção do campo magnético externo manifestando o seu estado magnetizado. | ||
d) Cessado a ação do campo magnético externo, o material se desmagnetizará rapidamente e os domínios novamente assumirão direções aleatórias. | ||
18 |
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[EC18] |
a) circuito 2-material condutor [conductive material] & circuito 1-bobina[coil] | ||
b) circuito 1-campo secundário & circuito 2-campo primário | ||
c) circuito 1-bobina [coil] & circuito 2-material condutor [conductive material] | ||
d) circuito 1-liftoff & circuito 2-distância sonda peça | ||
19 |
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[EC08] |
a) liftoff - tinta - condutor | ||
b) sinal de resposta - solda - isolante | ||
c) campo magnético - superfície - metálico | ||
d) resultado do ensaio - camada protetora contra a corrosão - ferromagnético | ||
20 |
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[EE09] |
a) 1&A - 2&B - 3&C | ||
b) 1&C - 2&A - 3&B | ||
c) 1&C - 2&B - 3&A | ||
d) 1&B - 2&C - 3&A | ||
21 |
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[EC09] |
a) circuito misto (resitivo-capacitivo e indutivo) apresenta tensão e corrente em fase. | ||
b) circuito indutivo puro apresenta a tensão atrasada em relação a corrente. | ||
c) circuito resistivo puro apresenta tensão e corrente em fase. | ||
d) circuito capacitivo puro apresenta a tensão adiantada em relação a corrente. | ||
22 |
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[EC10] |
a) 90 graus | ||
b) 45 graus | ||
c) 180 graus | ||
d) 270 graus | ||
23 |
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[EC10] |
a) retentividade elétrica | ||
b) impedância elétrica | ||
c) relutância magnética | ||
d) permeabilidade magnética | ||
24 |
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[EC10] |
a) É um gráfico onde a amplitude (intensidade ou módulo) do componente resistência é mostrada por um vetor ao longo do eixo x (horizontal). | ||
b) É um gráfico onde a amplitude amplitude da reatância indutiva é mostrada por um vetor ao longo do eixo y (vertical). | ||
c) É um gráfico que representa a relação entre impedância e seus componentes individuais (resistência e reatância indutiva). | ||
d) Todas as explicações são verdadeiras relativamente ao plano de impedância. | ||
25 |
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[EC10] |
a) intensidade e fase da resistência | ||
b) impedância e fase da indutância | ||
c) impedância e fase da capacitância. | ||
d) intensidade e fase da impedância | ||
26 |
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[EC10] |
a) A presença de indutância (bobina) no circuito CA faz com que a corrente elétrica e a tensão estejam defasadas. | ||
b) Se for usado no circuito corrente CC os efeitos da indutância (bobina) não são percebidos. | ||
c) A impedância do circuito elétrico é calculada pela soma dos valores da resistência e da reatância indutiva. | ||
d) A impedância do circuito elétrico é calculado pela soma vetorial da resistência e da reatância indutiva. | ||
27 |
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[EC11] |
a) Permeabilidade magnética [Magnetic permeability] | ||
b) Resistividade elétrica [Electrical resistivity] | ||
c) Frequência de excitação da sonda [Probe drive frequency] | ||
d) Todas as demais [All of the above] | ||
28 |
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[EC11] |
a) A permeabilidade do vácuo [The permeability in a vacuum] | ||
b) Um valor sem unidade métrica [A unitless value] | ||
c) Todas as Demais [All of the above] | ||
d) A razão entre a permeabilidade medida e a permeabilidade do vácuo [The ratio of the measured permeability and the permeability in a vacuum] | ||
29 |
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[EC11] |
a) diminui exponencialmente | ||
b) aumenta linearmente | ||
c) diminui linearmente | ||
d) aumenta exponencialmente | ||
30 |
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[EC11] |
a) O aumento da frequência de excitação da sonda, da permeabilidade magnética e da condutitvidade elétrica do material ensaiado implicam no aumento da profundidade padrão de penetração. | ||
b) O aumento da frequência de excitação da sonda, da permeabilidade magnética e da condutitvidade elétrica do material ensaiado implicam na diminuição da profundidade padrão de penetração. | ||
c) O aumento da frequência de excitação da sonda, e a diminuição da permeabilidade magnética e da condutitvidade elétrica do material ensaiado implicam na diminuição da profundidade padrão de penetração. | ||
d) A diminuição da frequência de excitação da sonda, e o aumento da permeabilidade magnética e a diminuição da condutitvidade elétrica do material ensaiado implicam na diminuição da profundidade padrão de penetração. | ||
31 |
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[EC11] |
a) externa - concentra | ||
b) interna - reflete | ||
c) limitada - extende | ||
d) concentrada - reflete | ||
32 |
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[EC12] |
a) Diminui com a descontinuidade [Decrease with discontinuity depth] | ||
b) É o mesmo que o ângulo de fase [Is the same as phase angle] | ||
c) Aumenta com a profundidade da descontinuidade [Increase with discontinuity depth] | ||
d) É o mesmo que o ângulo separando o liftoff do sinal da falha no plano de impedância [Is the same as the angle separating the liftoff and flaw signals on an impedance plane] | ||
33 |
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[EC12] |
a) amplitude (intensidade ou módulo) - fase | ||
b) quantidade das correntes parasitas - resistência | ||
c) penetração - densidade | ||
d) resistividade - condutividade | ||
34 |
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[EC12] |
a) quadrática | ||
b) linear | ||
c) logarítimica | ||
d) exponencial | ||
35 |
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[EC12] |
a) Apenas quando se trata de aparelhos para uso no campo. | ||
b) Somente para os aparelho portáteis. | ||
c) Falso. | ||
d) Verdadeiro. | ||
36 |
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[EC13] |
a) fonte de corrente alternada que alimenta a bobina | ||
b) capacitor para armazenar ernegia que é suprida de tempos em tempos a bobina de ensaio | ||
c) bobina de excitação de correntes parasitas e de captação de resposta | ||
d) voltímetro ou amperímetro para medir a mudança da propriedade elétrica através da bobina | ||
37 |
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[EC14] |
a) Todas as demais [All of the others] | ||
b) Resistência [Resistance] | ||
c) Reatância indutiva [Inductive reactance] | ||
d) Uma pequena quantidade de capacitância [A small amount of capacitance] | ||
38 |
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[EC14] |
a) As sondas de correntes parasitas normalmente têm uma frequência ou uma faixa de frequências para as quais são projetadas para operar. | ||
b) A frequência de ressonância ocorre para valores únicos da indutância e da capacitância do circuito. | ||
c) Na frequência ressonante, a impedância total do circuito parece vir apenas da resistência desde que XL e XC se cancelam. | ||
d) O cálculo da frequência de ressonância independe da resistência elétrica do circuito. | ||
39 |
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[EC15] |
a) Fórmula de Roentgen [Roentgen's formulas] | ||
b) Reciprocidade [Reciprocity] | ||
c) Indutância da ponte de Maxwell [Maxwell's inductance bridge] | ||
d) Lei do inverso dos quadrados [The Inverse Square Law] | ||
40 |
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[EC15] |
a) Circuito de Woodstock | ||
b) Ponte de Wheatstone | ||
c) Circuito Híbrido
|
||
d) Circuito de Oersted | ||
41 |
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[EC16] |
a) Permanecer inalterada [Remain unchanged] | ||
b) Diminuir porque o material concentrará o campo magnético ao redor da bobina [Decrease because the material will concetrate the magnetic field in and around the coil] | ||
c) Aumentar porque o material concentrará o campo magnético ao redor da bobina [Increase because the material will concentrate the magnetic field in and around the coil] | ||
d) Diminuir porque o campo magnético da bobina será enfraquecido pelo material [Decrease because the magnetic field of the coil will be weakened by the material] | ||
42 |
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[EC16] |
a) A presença de uma trinca ou uma redução na condutividade produzirá uma mudança no sinal de corrente parasita semelhante ao visto com a diminuição do liftoff do ensaio. | ||
b) As grandezas influentes no ensaio de correntes parasitas (condutividade elétrica, permeabilidade magnética, grandezas dimensionais da peça, e acoplamento eletromagnético sonda-peça) fazem com que o sinal de corrente parasita no plano de impedância reaja (se desloque) de várias maneiras diferentes. | ||
c) Quando uma sonda é acoplada a um material magnético como o aço, as correntes parasitas se formam, tirando energia da bobina, que aparece como uma diminuição da resistência da bobina. | ||
d) Se o sistema de corrente parasita for balanceado (com a sonda) no ar e depois a sonda colocada (acoplada) em uma peça de alumínio, o componente resistivo do sinal diminuirá e a reatância indutiva da bobina diminuira. | ||
43 |
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[EC17] |
a) Os aparelhos analógicos são os mais simples dos instrumentos disponíveis para inspeções por correntes parasitas. | ||
b) Eles são usados para detecção de processo corrosivo em tubos de trocadores de calor | ||
c) Estes tipos de instrumentos contêm um circuito em ponte simples, que compara uma impedância de balanço com a impedância da amostra sob teste. | ||
d) Se ocorrer alguma alteração na amostra ensaida que se desvie do normal (condição de balanço), será observado um um movimento na agulha do medidor do aparelho. | ||
44 |
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[EC18] |
a) Sondas Absolutas | ||
b) Sondas Diferenciais | ||
c) Sondas Mistas | ||
d) Sondas de Reflexão | ||
45 |
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[EC19] |
a) Todas as demais opções [All of the above] | ||
b) Sondas superficiais [Surface probes] | ||
c) Sondas de furos de parafusos e rebites [Bolt hole probes] | ||
d) Sondas internas [ID probes] | ||
46 |
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[EC19] |
a) Sonda de furos de parafusos ou rebites [Bolt hole probes] | ||
b) Sonda tipo lápis [Pencil probes] | ||
c) Sonda superficial [Surface probes] | ||
d) Sonda para tubos [Bobbin probes] | ||
47 |
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[EC19] |
a) Ser facilmente detectadas com sondas superficiais [Be easily detected with a surface probe] | ||
b) Nenhuma das demais opções [None of the others] | ||
c) Ser facilmente detectadas com sondas internas [Be easily detected with an internal probe] | ||
d) Ser facilmente detectadas com sondas externas [Be easily detected with an external probe] | ||
48 | Sondas superficiais amplas são empregadas para escanear [Wide surface probes are used when scanning]: | [[EC19] |
a) Grandes áreas para verificar a presença de pequenas trincas [Large areas for very small cracks] | ||
b) Pequenas áreas para detectar delaminações [Small areas for delaminations] | ||
c) Grandes áreas para detectar relativamente grandes descontinuidades [Large areas for relatively large defects] | ||
d) Nenhum dos demais [None of the above] | ||
49 |
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[EC19] |
a) Sondas circunferenciais [Circumference probes] | ||
b) Nenhuma das demais opções [None of the above] | ||
c) Sondas envolventes e internas [Encircling or bobbin probes] | ||
d) Sondas tipo lápis [Pencil probes] | ||
50 |
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[EC19] |
a) Superficies planas [Flat surfaces] | ||
b) Furos [Holes] | ||
c) Superficies de Raios [Radiuses] | ||
d) Todas as demais opções [Both A, B and C] | ||
51 |
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[EC19] |
a) Transientes ou picos de energia [Energy spikes] | ||
b) Ruidos de baixa frequência [Low frequency noise] | ||
c) Movimento ou vibração irregular [Wobble] | ||
d) Todas as demais opções [Both A, B and C] | ||
52 |
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[EC19] |
a) O eixo da bobina é perpendicular a superfície da peça a inspecionar [The axis of the coil is perpendicular to the test surface] | ||
b) Elas transmitam uma frequência que ressoarão ligeiramente a superfície da peça [They transmit a frequency that will slightly resonate the part surface] | ||
c) Elas criem um campo magnético estático [They create a static magnetic field] | ||
d) Todas as demais opções [Both B and C] | ||
53 |
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[EC19] |
a) Sonda de referência [Reference probe] | ||
b) Sonda superficial [Surface probe] | ||
c) Sonda de transmissão [Transmission probe] | ||
d) Sonda reflexiva [Reflection probe] | ||
54 |
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[EC19] |
a) Sondas com diametros grandes e finas, tipo panqueca [Pancake probes] | ||
b) Sondas envolventes [Encircling probes] | ||
c) Sondas deslizantes [Sliding probes] | ||
d) Sondas tipo lápis [Pencil probes] | ||
55 |
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[EC19] |
a) Sonda interna [Bobbin probes] | ||
b) Sonda superficial [Surface coils] | ||
c) Sonda tipo lápis [Pencil probes] | ||
d) Sonda envolvente [Encircling coils] | ||
56 |
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[EC19] |
a) Sondas tipo lápis [Pencil probes] | ||
b) Sondas superficial [Surface probes] | ||
c) Sondas para furos de parafusos e rebites [Bolt hole probes] | ||
d) Sondas interna [Bobbin probes] | ||
57 |
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[EC20] |
a) Dar forma as correntes parasitas para se acomodarem a peça sendo inspecionada [Shape the eddy currents to the curvature of the part] | ||
b) errado b) Aumentar a impedância da sonda I[ncrease the probe impedance] | ||
c) Reduzir o acoplamento indutivo da sonda na peça [Reduce the inductive coupling of the probe and part] | ||
d) Reduzir os efeitos de características não relevantes bem próximo a sonda [Reduce the effects of nonrelevant features in close proximity to the probe] | ||
58 |
![]() |
[EC20] |
a) Mais profundo as correntes parasitas penetrarão no material [Deeper the eddy currents will penetrate] | ||
b) Mais forte o campo magnético será [Stronger the probe's magnetic field will be] | ||
c) Todas as opções [Both A, B and C] | ||
d) Mais efetiva blindagem será devida ao efeito de pele no material da blindagem [More effective shielding will be due to skin effect] | ||
59 |
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[EC20] |
a) Limitar a dispersão e concentrar o campo magnetico da bobina [Limit the spread and concentrate the magnetic field of the coil] | ||
b) Prevenir interferencias elétricas externas [Prevent external electrical interference] | ||
c) Saturar magneticamente as peças [Magnetically saturate the part] | ||
d) Nenhuma das demais opções [None of the above] | ||
60 |
![]() |
[EC20] |
a) Ser mais difícieis de usar [Be more difficult to use] | ||
b) Ser mais sensíveis que sondas sem entreferro e menos sensíveis a movimentação errática da sonda [Be more sensitive than air core probes and less affected by probe wobble] | ||
c) Aumentar o ruído de fundo do sinal [Increase the background noise of the signal] | ||
d) Todas as demais respostas [Both A, B and C] | ||
61 |
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[EC20] |
a) Ferrita [Ferrite] | ||
b) Alumínio [Aluminum] | ||
c) Ferrita e Alumínio [Both A and B] | ||
d) Chumbo [Lead] | ||
62 |
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[EC20] |
a) Permitir que a sonda opere a maiores frequências [Allow the probe to operate at a higher frequency] | ||
b) Concentrar o campo magnético da sonda próximo ao centro da sonda [Concentrate the magnetic field near the center of the probe] | ||
c) Mudar a transmissão das correntes parasitas para diminuir a penetração [Shift the transmission of eddy currents in order to decrease penetration] | ||
d) Permitir o ensaio de materiais muito densos [Allow testing of very dense materials] | ||
63 |
![]() |
[EC21] |
a) Cobre [Copper] | ||
b) Ferro [Iron] | ||
c) Prata [Silver] | ||
d) Platina [Platinum] | ||
64 |
![]() |
[EC21] |
a) Maior será a penetração das correntes parasitas [The more penetrating the eddy currents will be] | ||
b) Menos sensivel a bobina será [The less sensitive the coil will be] | ||
c) Mais sensivel a sonda será [The more sensitive the coil will be] | ||
d) Nenhum dos demais [None of the others] | ||
65 |
![]() |
[EC21] |
a) núcleo | ||
b) inner | ||
c) base | ||
d) entreferro | ||
66 |
![]() |
[EC22] |
a) resistência - reatância capacitiva - impedância | ||
b) impedância - resistência - reatância indutiva | ||
c) capacitância - indutância - resistência | ||
d) permeabilidade - relutância - indutância | ||
67 |
![]() |
[EC22] |
a) maior - maior - combinando | ||
b) menor - maior - somando | ||
c) maior - menor - diminuindo | ||
d) igual - igual - adequando | ||
68 |
![]() |
[EC22] |
a) falsa | ||
b) verdadeira | ||
c) verdadeira apenas quando usando bobinas absolutas, pois as diferencias se auto balanceiam | ||
d) falsa no caso de estar trabalhando com sondas hibridas | ||
69 |
![]() |
[EC26] |
a) Acoplante [Couplant] | ||
b) Partículas fluorescentes [Fluorescent particles] | ||
c) Padrões de referência [Reference standards] | ||
d) Solventes não abrasivos [Non abrasive cleaners] | ||
70 |
![]() |
[EC23] |
a) Uma descontinuidade identificada [An identified defect] | ||
b) Um padrão de referência [A reference standard] | ||
c) Uma trinca que é igual ao limiar de rejeição [A crack which is equal the rejection criteria]
|
||
d) Uma trinca que tem dimensões o dobra ao critério de rejeição [A crack twice the rejection criteria] | ||
71 |
![]() |
[EC23] |
a) Espessura do material [Material thickness] | ||
b) Geometria do material [Material geometry] | ||
c) Todas as demais opções [All of the above] | ||
d) Condutividade do material [Material conductivity] | ||
72 |
![]() |
[EC23] |
a) Nunca são usados porque são largos [Are never used because they are too wide] | ||
b) São usadas comumente para representar trincas [Are commonly used to represent cracks] | ||
c) Nunca são empregados por causa das suas zonas termicamente afetadas [Are never used due to their heat affected zones] | ||
d) Ambos "Nunca são usados porque são largos" & "Nunca são empregados por causa das suas zonas termicamente afetadas" [Both "Are never used because they are too wide" & "Are never used due to their heat affected zones"] | ||
73 |
![]() |
[EC23] |
a) Padrões de condutividade [Conductivity standards] | ||
b) Todas as demais opções [All of the above] | ||
c) Padrões tubulares com descontinuidades [Tube discontinuity standards] | ||
d) Padrões com descontinuidades em furos [Hole discontinuity standards] | ||
74 |
![]() |
[EC23] |
a) Trincas [Cracks] | ||
b) Delaminações [Delaminations] | ||
c) Alvéolos e pites [Pitting] | ||
d) Nenhuma das demais opções [None of the above] | ||
75 |
![]() |
[EC24] |
a) Filtro passa baixo [Low Pass Filter] | ||
b) Frequência passa baixo [Low Pulse Frequency] | ||
c) Filtro para busca [Last Pass Filter] | ||
d) Frequência periódica brilhante [Low Pass Frequency] | ||
76 |
![]() |
[EC24] |
a) Quando empregando filtro passa alto [When using a high pass filter] | ||
b) Quando usando pequenos transdutores [When using a small transducer] | ||
c) Quando usando um transdutor largo [When using a large transducer] | ||
d) Quando empregando uma sonda larga de baixa frequência [When using a large low frequency probe] | ||
77 |
![]() |
[EC24] |
a) Deve ser adicionado no sinal de base [It should be added to the base signal] | ||
b) Não está diretamente relacionado a frequência de excitação da sonda[It is not directly related to the probe drive frequency] | ||
c) Deve ser adicionado na bobina de captação [Should be added to the pick-up coil] | ||
d) Deve ser subtraido da amplitude do decibel [Should be subtracted from the amplitude of the dB] | ||
78 |
![]() |
[EC24] |
a) Filtro para amplitude [High Pulse Filter] | ||
b) Frequência pulso alto [Harmonic Pulse Filter] | ||
c) Filtro passa alto [High Pass Filter] | ||
d) Fator pulso alto[High Pulse Factor] | ||
79 |
![]() |
[EC24] |
a) Em peças finas [On thin parts] | ||
b) Em peças grossas [On thick parts] | ||
c) Quando escaneando manualmente [When scanning manually] | ||
d) Em peças ferrosas [On ferrous parts] | ||
80 |
![]() |
[EC24] |
a) kHz [KHz] | ||
b) Hz [Hz] | ||
c) MHz [MHz] | ||
d) THz [THz] | ||
81 |
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[EC24] |
a) Baixas frequências passarem e filtragem das altas frequências [Low frequencies to pass and filters out the high frequencies] | ||
b) Para a frequência combinada ser ajustada para um harmonico de equilíbbrio For the combined frequencies to be adjusted to a harmonic balance] | ||
c) Altas frequências passarem e filtragem das outras frequências High frequencies to pass and filters out the low frequencies] | ||
d) A forma da onda ser encurtada longe da sua frequência de balanço [The shape of the waveform to be clipped beyond it frequency balance] | ||
82 |
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[EC24] |
a) Mudar a forma da onda de positivo para negativo quando uma descontinuidade reprovável é identificada [Shift the waveform from positive to negative when a rejectable defect is identified] | ||
b) Ajustar a largura de banda para uma frequência neutra de forma a maximizar a profundidade de penetração [Adjust the bandwidth to a neutral frequency in order to maximize depth of penetration] | ||
c) Remover ondas posicionadas no sinal de resposta [Remove any standing waves in the output signal] | ||
d) Eliminar as frequências baixas que são produzidas por lentas mudanças, como as variações de condutividade [Eliminate low frequencies which are produced by slow changes, such as a conductivity shift] | ||
83 |
![]() |
[EC24] |
a) Controlar a vibração indesejável/errática da sonda durante a varredura [Control probe wobble] | ||
b) Remover ruidos de interferência com alta frequência [Remove high frequency interference noise] | ||
c) Ajustar o aparelho para o padrão de condutividade apropriado [Adjust the machine to the proper conductivity standard] | ||
d) Deslocar a onda para a esquerda da tela [Shift the waveform to the left of the screen] | ||
84 |
![]() |
[EC25] |
a) Deve ser tão baixa quanto possível [Should be as low as possible] | ||
b) Depende da condutividade e permeabilidade do material [Depends on the conductivity and permeability of the material] | ||
c) Depende apenas da condutividade do material [Depends only on the material conductivity] | ||
d) Deve ser tão alta quanto possível [Should be as high as possible] | ||
85 |
![]() |
[EC25] |
a) Tão alta quanto possível [As high as possible] | ||
b) Tão baixa quanto possível [As low as possible] | ||
c) Nenhuma das deais respostas [None of the above] | ||
d) Calculada para produzir um defasagem de 90 graus entre os sinais de liftoff e de trinca [Calculated to produce a 90o difference between the liftoff and flaw signals] | ||
86 |
![]() |
[EC26] |
a) Superfícies planas grandes [Large flat surfaces] | ||
b) Dentro dos orifícios de parafusos [Inside bolt holes] | ||
c) Ao redor das arestas de fixadores de chapas [Around the edges of fasteners] | ||
d) Em raios [In radiuses] | ||
87 | Sondas deslizantes normalmentge operam no [Sliding probes usually operate in th]e: | [EC26] |
a) Modo de transmissão [Through-transmission mode] | ||
b) Modo pulsado [Pulsed mode] | ||
c) Modo diferencial [Differential mode] | ||
d) Modo de reflexão [Reflection mode] | ||
88 |
![]() |
[EC28] |
a) Apenas uma quantidade limitada de correntes parasitas podem ser contidas por um pequeno volume de material. | ||
b) Materiais mais espessos podem conter mais correntes parasitas que os mais finos. | ||
c) A intensidade (quantidade) de correntes parasitas pode ser medida e associada a espessura do material. | ||
d) Medidas de espessura são possíveis com o ensaio de correntes parasitas independente da faixa de espessura do componente. | ||
89 |
![]() |
[EC27] |
a) É verdadeira. | ||
b) É falsa. | ||
c) É falsa se o material ensaiado for não ferromagnético. | ||
d) É verdadeira se o material for ferromagnético. | ||
90 |
![]() |
[EC28] |
a) Uma variedade de sondas superficiais [Surface probe variety] | ||
b) Uma variedade de sondas internas [Bobbin (ID) variety] | ||
c) Uma variedade de sondas para inspeção de furos de parafusos e rebites [Bolt hole variety] | ||
d) Todas as demais respostas estão corretas [All of the above are correct] | ||
91 |
![]() |
[EC28] |
a) Pode ser executado com sondas envolventes. | ||
b) É aplicada apenas em tubos de material ferromagnético. | ||
c) Permite identificar se a descontinuidade é localizada na parede interna ou externa da tubulação. | ||
d) Só permite a detecção de descontinuidades localizadas na parede externa da tubulação. | ||
92 |
![]() |
[EC28] |
a) O sinal da descontinuidade interna aparece em uma fase entre os sinais do furo passante e da descontinuidade externa. | ||
b) O sinal da desocntinuidade externa aparece em uma fase entre os sinais do furo passante e da descontinuidade interna. | ||
c) O sinal do furo passante aparece em uma fase entre os sinais da descontinuidade interna e da descontinuidade externa. | ||
d) O sinal do suporte dos tubos aparece na mesma fase que o sinal do entalhe externo. | ||
93 |
![]() |
[EC29] |
a) Decrescer [Decrease] | ||
b) Crescer [Increase] | ||
c) Permanecer a mesma [Remain the same] | ||
d) Permanecer a mesma até a sonda tocar o material [Remain the same until the probe touches the material] | ||
94 |
![]() |
[EC29] |
a) Alta frequência [High frequency] | ||
b) Baixa frequência [Low frequency] | ||
c) Frequência variável [Variable frequency] | ||
d) Nenhuma das outras respostas [None of the others] | ||
95 |
![]() |
[EC29] |
a) 3 | ||
b) 1 | ||
c) 2 | ||
d) 4 | ||
96 |
![]() |
[EC30] |
a) Permeabilidade | ||
b) Condutividade | ||
c) Liftoff | ||
d) Frequência | ||
97 |
![]() |
[EC30] |
a) Tração | ||
b) Dobramento | ||
c) Recozimento | ||
d) Têmpera | ||
98 |
![]() |
[EC30] |
a) Espessura de revestimentos metálicos sobre bases (substratos) metálicas ou não metálicas | ||
b) Espessura de metais na forma de fabricação que resultem em produtos de grande espessura como perfis estruturais mecânicos (pontes rolantes, por exemplo) | ||
c) Dimensões da seção reta de tubos e barras cilíndricas | ||
d) Espessura de revestimentos não metálicos sobre base (substrato) metálico | ||
99 |
![]() |
[EC32] |
a) Uma mudança na frequência devido ao liftoff [[A frequency change due to liftoff] | ||
b) Uma mudança na impedância devido a mudança na condutividade [An impedance change due to a change in conductivity] | ||
c) Uma mudança na impedância devido a distância sonda-peça (liftoff) [An impedance change due to liftoff] | ||
d) Todas as demais respostas [Both A, B and C] | ||
100 |
![]() |
[EC32] |
a) Detecção de trincas superficiais e próximas a superfície [Detect surface and near surface cracks] | ||
b) Ambas "Detecção de trincas superficiais e próximas a superfície" & "Medição da condutividade elétrica" [Both "Detect surface and near surface cracks" and "Measure electrical conductivity"] | ||
c) Medição da condutividade elétrica [Measure electrical conductivity]
|
||
d) Medição da espessura de revestimentos não condutores sobre bases plásticas [Measure the thickness of nonconductive coatings on plastics] |
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