No. |
Questões | [Ref] |
1 |
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[Neo-CP] |
a) A frequência de excitação da sonda de inspeção | ||
b) A condutividade elétrica do material | ||
c) A permeabilidade magnética do material | ||
d) A quantidade de material sólido na vizinhança da bobina (proximidade a condutores – lift-off) | ||
2 |
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[Neo-CP] |
a) verdadeiro | ||
b) falso | ||
3 |
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[Neo-CP] |
a) verdadeiro | ||
b) falso | ||
4 |
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[Neo-CP] |
a) A3 - B2 - C1 | ||
b) A1 - B2 - C3 | ||
c) A2 - B1 - C3 | ||
d) A1 - B3 - C2 | ||
5 |
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[Neo-CP] |
a) verdadeiro | ||
b) falso | ||
6 |
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[Neo-CP] |
a) Representar a resposta do ensaio no plano de impedância | ||
b) Mostrar o valor de reatância indutiva do sistema sonda-peça medido no ensaio | ||
c) Mostrar o valor de reatância capacitiva do sistema sonda-peça medido no ensaio | ||
d) A resposta do ensaio de correntes parasitas é dependente da diferença entre o campo primário gerado e do campo secundário reativo | ||
7 |
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[Neo-CP] |
a) Atualmente apenas o método da elipse é empregado como forma de apresentação do ensaio de correntes parasitas | ||
b) São técnicas de inspeção no ensaio de correntes parasitas | ||
c) São esquemas de ligação elétrica da sonda de inspeção no ensaio de correntes parasitas | ||
d) São diferentes formas de apresentar a resposta impedância do ensaio de correntes parasitas | ||
8 |
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[Neo-CP] |
a) o lugar geométrico da componente resistência de resposta do ensaio | ||
b) a condutividade elétrica | ||
c) a extremidade do vetor impedância resposta do sistema sonda-peça | ||
d) o campo elétrico gerado na peça inspecionada | ||
9 |
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[Neo-CP] |
a) Mudança na frequência do ensaio | ||
b) Mudança na condutividade elétrica no campo de ação da sonda de inspeção | ||
c) Mudança na impedância acústica no campo de ação da sonda de inspeção | ||
d) Mudança na distância da sonda a peça inspecionada | ||
10 |
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[Neo-CP] |
a) Mudança na espessura de uma peça de 250 mm de espessura sendo inspecionada do lado oposto | ||
b) Mudança no diâmetro da peça sendo inspecionada com sonda envolvente | ||
c) Presença de descontinuidade no campo de ação da sonda de inspeção | ||
d) Mudança na distância da sonda a peça inspecionada | ||
11 |
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[Neo-CP] |
a) Diminui a quantidade de corrente parasita induzida na superfície da peça | ||
b) Diminui a resposta a grandeza primária do ensaio permeabilidade magnética comparada a condutividade elétrica | ||
c) Permite penetrar mais na peça | ||
d) Dificulta a detecção de descontinuidades superficiais | ||
12 |
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[Neo-CP] |
a) trabalhando com uma frequência bem baixa que elimine as variáveis indesejadas | ||
b) trabalhar com uma frequência bem alta que ressalte a variável desejada | ||
c) escolher uma frequência operativa que faça com que as variáveis influentes no ensaio apresentem deslocamento do ponto de trabalho em direções diferenciadas | ||
d) no ensaio de correntes parasitas o efeito das diversas propriedades não pode ser separado | ||
13 |
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[Neo-CP] |
a) Escolher a frequência de ensaio que forneça uma sensibilidade e resolução razoáveis e que separe as resposta (direções no plano de impedância) da propriedade de interesse das respostas dos sinais espúrios | ||
b) Escolher a frequência de ensaio que forneça uma sensibilidade e resolução máximas sem se preocupar com as respostas (direções no plano de impedância) da propriedade de interesse e da dos sinais espúrios | ||
c) Escolher a frequência de ensaio que forneça uma sensibilidade e resolução razoáveis e que não separe as resposta (direções no plano de impedância) da propriedade de interesse das respostas dos sinais espúrios | ||
d) Escolher a frequência de ensaio que forneça uma sensibilidade e resolução mínimas | ||
14 |
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[Neo-CP] |
a) absoluto | ||
b) diferencial | ||
c) transparência | ||
d) (D) reflexivo | ||
15 |
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[Neo-CP] |
a) absoluto | ||
b) diferencial | ||
c) transparência | ||
d) reflexivo | ||
16 |
![]() | [Neo-CP] |
a) da posição inferior para superior quando o material é ferromagnético | ||
b) da posição superior para inferior quando o material é não ferromagnético | ||
c) da posição esquerda para direita quando o material é ferromagnético | ||
d) da posição inferior para superior quando o material é não ferromagnético | ||
17 |
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[Neo-CP] |
a) Corrente Contínua induz um campo primário na bobina | ||
b) O campo primário induz correntes parasitas na parede do tubo | ||
c) A corrente parasita induz um campo secundário, que influencia a impedância da bobina | ||
d) Descontinuidades na parede do tubo mudam o campo secundário e consequentemente a impedância da bobina | ||
e) A mudança na impedância da bobina pode ser medida pela fase e amplitude do sinal de resposta do ensaio | ||
18 |
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[Neo-CP] |
a) método diferencial com comparação externa | ||
b) método diferencial com comparação interna (auto comparativo, "self comparison") | ||
c) método absoluto | ||
d) método reflexivo | ||
19 |
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[Neo-CP] |
a) verdadeiro | ||
b) falso | ||
20 |
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[Neo-CP] |
a) da profundidade da descontinuidade [the depth of the discontinuity] | ||
b) da largura da descontinuidade [the width of the discontinuity] | ||
c) todos as opções [all of the others] | ||
d) do comprimento da descontinuidade [the length of the discontinuity] | ||
21 |
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[Neo-CP] |
a) padronização de alta frequência [high frequency standardization] | ||
b) integração [integration] | ||
c) diferenciação [differentiation] | ||
d) balanço ou compensação [null or balance] | ||
22 |
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[Neo-CP] |
a) um arranjo com bobina absoluta [an absolute coil arrangement] | ||
b) um arranjo com bobina diferencial auto comparativa [a self-comparison differential coil arrangement] | ||
c) um arranjo com bobina diferencial com comparação externa [an external reference differential coil arrangement] | ||
d) D) nenhum dos outros [none of the others] | ||
23 |
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[Neo-CP] |
a) uma mudança da razão entre a reatância indutiva (XL) e resistência (R) [a change in the ratio of inductive reactance (XL) to resistance (R) | ||
b) uma mudança na ajustagem da sensibilidade do sistema (a change in the sensitivity seting of the instrument] | ||
c) uso da análise de modulação [use of modulation analysis] | ||
d) nenhuma das opções [none of the answers] | ||
24 |
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[Neo-CP] |
a) sinais de baixa voltagem indicam descontinuidades de pouca profundidade [low voltage signals indicate insignificant discontinuity depths] | ||
b) nenhum dos demais é verdadeiro [none of the others is true] | ||
c) sinais de alta voltagem sempre estão relacionadas com descontinuidades rejeitáveis [high voltage signals are always from rejectable discontinuities] | ||
d) sinais de placas suporte (defletores de fluxo, chicanas) sempre mascaram sinais de descontinuidades [signals from support plates always hide discontinuity signals] | ||
25 |
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[Neo-CP] |
a) pode melhorar a detecção de descontinuidades localizadas [should improve detection of localized discontinuities] | ||
b) pode cobrir uma grande área da superfície em um passo único [can cover a large surface area in one pass] | ||
c) todos as opções [all of the others] | ||
d) pode aumentar a complexidade da detecção e interpretação do sinal [might increase the complexity of signal detection and interpretation] | ||
26 |
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[Neo-CP] |
a) descontinuidades longas e apresentando redução gradual de espessura [long, gradually tapering discontinuities] | ||
b) B) erosão apenas em um lado do tubo (circunferência) [one-sided erosion] | ||
c) C) diferença de temperatura ao longo do tubo [temperature differences] | ||
d) D) todos as opções [all of the others] | ||
27 |
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[Neo-CP] |
a) descontinuidades longas com afinamento suave de parede (espessura) [long tapered discontinuities] | ||
b) B) descontinuidades pequenas com mudança abrupta de espessura [short abrupt discontinuities] | ||
c) C) diferenças de temperatura ao longo da varredura [temperature differences] | ||
d) D) todos as opções [all of the others] | ||
28 |
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[Neo-CP] |
a) reatância capacitiva e resistência [capacitive reactance and resistance] | ||
b) frequências harmonicas e reatância indutiva [harmonic frequencies and inductive reactance] | ||
c) retentividade e frequências harmonicas [retentivity and harmonic frequencies] | ||
d) amplitude e fase do sinal [signal amplitude and phase] | ||
29 |
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[Neo-CP] |
a) impedância da bobina sensora [impedance of a pickup coil] | ||
b) velocidade do ensaio [test speed] | ||
c) nenhum dos demais [none of the others] | ||
d) velocidade do ensaio & impedância da bobina sensora [test speed & impedance of a pickup coil] | ||
30 |
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[Neo-CP] |
a) permeabilidade do material ensaiado [test material permeability] | ||
b) frequência de ensaio [test frequency] | ||
c) todos os demais [all of the others] | ||
d) geometria da peça ensaiada [geometry of the test object] | ||
31 |
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[Neo-CP] |
a) a fase da descontinuidade externa (OD) está adiantada da fase da descontinuidade interna (ID) [the phase of OD discontinuity leads the phase of ID discontinuity] | ||
b) os sinais estão em fase [the signal are in phase] | ||
c) indeterminado [indeterminate] | ||
d) a fase da descontinuidade externa (OD) está atrasada da fase da descontinuidade interna (ID) [the phase of OD discontinuity lags the phase of ID discontinuity] | ||
32 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) distorção de fase [phase distortion] | ||
b) mudança de fase [phase shifting] | ||
c) descriminação de fase [phase discrimination] | ||
d) análise de fase [phase analysis] | ||
33 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) condutividade absoluta [absolute conductivity]] | ||
b) indutância absoluta [absolute inductance] | ||
c) indutância normalizada [normalized inductance] | ||
d) resistência normalizada [normalized resistance | ||
34 |
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[Neo-CP] |
a) pequenas descontinuidades [short discontinuities] | ||
b) B) mudanças graduais no diâmetro [gradual changes in diameter] | ||
c) C) mudanças na temperature [changes in temperature] | ||
d) D) mudanças graduais na condutividade [gradual changes in conductivity] | ||
35 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) sistema controlado de resposta [feedback-controlled system] | ||
b) sistema de amplitude da impedância [impedance-magnitude system] | ||
c) sistema de amplitude da reatância indutiva [inductive reactance magnitude system] | ||
d) sistema de análise do vetor impedância [impedance vector analysis system] | ||
36 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) mudanças no diâmetro [diameter changes] | ||
b) variações na espessura de parede [wall thickness variations] | ||
c) mudanças de condutividade [conductivity changes] | ||
d) pequenas descontinuidades [small discontinuities] | ||
37 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) grau de descriminação de fase requerido [degree of phase discrimination required] | ||
b) penetração da correntes parasitas necessária [eddy current penetration needed] | ||
c) (grau de descriminação de fase requerido) & (penetração da correntes parasitas necessária) & (detecção de descontinuidade e critério de aceitação requerido) [(degree of phase discrimination required) & (eddy current penetration needed) & (discontinuity detection and sizing criteria)] | ||
d) detecção de descontinuidade e critério de aceitação requerido [discontinuity detection and sizing criteria] | ||
e) (gráu de descriminação de fase requerido) & (penetração da correntes parasitas necessária) apenas [(degree of phase discrimination required) & (eddy current penetration needed) only] | ||
38 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) diferêncial auto-comparativa [self-comparison differential] | ||
b) absoluta com referência externa [external reference absolute] | ||
c) bobina simples absoluta [single coil absolute] | ||
d) bobina dupla absoluta [double coil absolute] | ||
39 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) eliminar o efeito de pele [eliminate skin effect] | ||
b) diminuir a sensibilidade do sistema [decrease the system sensitivity] | ||
c) aumentar a condutividade do circuito [increase the conductivity of the circuit] | ||
d) determiner as diferenças entre uma peça amostra padrão e uma peça sendo ensaiada [determine the differences between a known standard sample and a test piece] | ||
40 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) mudança de fase [phase shift] | ||
b) lift-off [lift-off] | ||
c) não linearidade [nonlinearity] | ||
d) efeito de pele [skin effect] | ||
41 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) linearidade [linearity] | ||
b) faixa dinâmica [dynamic range] | ||
c) mudança de fase [phase shifting] | ||
d) distorção [distortion] | ||
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