No. |
Questões | [Ref] |
1 |
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[Neo-CP] |
a) tabela de condutividade | ||
b) aparelho | ||
c) sonda | ||
d) padrão | ||
2 |
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[Neo-CP] |
a) São classificados pela portabilidade e aplicação (laboratório ou campo) | ||
b) A maioria dos aparelhos é classificada pela forma de apresentação dos sinais | ||
c) Por ser uma técnica muito recente apenas existem aparelhos digitais (não existem aparelhos analógicos) | ||
d) Devido a necessidade de medição da propriedade impedância elétrica não é possível existirem aparelhos digitais (todos são analógicos) | ||
3 |
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[Neo-CP] |
a) gerador | ||
b) dispositivos de balanço ou compensação | ||
c) osciloscópio, galvanômetro, registradores e alarmes | ||
d) código de barras | ||
4 |
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[Neo-CP] |
a) verdadeiro | ||
b) falso | ||
5 |
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[Neo-CP] |
a) o diagrama de tensões mecânicas aplicadas a peça | ||
b) o plano de impedância elétrica do sistema sonda-peça | ||
c) o plano de varredura da peça | ||
d) a imagem da sonda "escaneando" a peça | ||
6 |
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[Neo-CP] |
a) impedância acústica e impedância elétrica da peça | ||
b) reatância elétrica e resistência ohmica | ||
c) resistência ôhmica e reatância indutiva | ||
d) indutância e relutância | ||
7 |
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[Neo-CP] |
a) verdadeiro | ||
b) falso | ||
8 |
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[Neo-CP] |
a) Os aparelhos do tipo osciloscópio deixaram de existir quando surgiram as telas do tipo "soft touch" dos "tablets" | ||
b) Os “osciloscópios” (na realidade hoje são os/as monitores/telas de instrumentos micro processados) dos modernos aparelhos digitais de correntes parasitas. | ||
c) Podem apresentar resultados de uma ou duas frequências de teste. | ||
d) Aparelhos com duas frequências são capazes de excitar sequencialmente a sonda com duas frequências de inspeção diferentes (ou duas sondas com a mesma frequência de teste) | ||
9 |
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[Neo-CP] |
a) verdadeiro | ||
b) falso | ||
10 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) verdadeiro | ||
b) falso | ||
11 |
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[Neo-CP] |
a) Permitir aumento na informação coletada (resultados da inspeção) com apenas uma varredura (passagem da sonda) | ||
b) Fornecem a possibilidade de comparação dos resultados (sinal) da inspeção de uma mesma descontinuidade a diferentes frequências | ||
c) Permite a mistura/combinação (mixagem) dos sinais nas diferentes frequências o que ajuda a reduzir ou eliminar fontes de ruído na inspeção | ||
d) Geralmente diminui a detecção, a interpretação e a capacidade de dimensionamento das descontinuidades | ||
12 |
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[Neo-CP] |
a) Externas, envolventes, “encircling coils” | ||
b) Internas, “inside coils”, “bobbin” | ||
c) Superficiais, “pencil probes” | ||
d) Superficiais, externas e internas | ||
13 |
![]() | [Neo-CP] |
a) As sondas amplas são normalmente utilizadas para medir propriedades que se distribuem uniformemente pelo material ensaiado As sondas localizadas (pequenas, com núcleo [entreferro], ou isoladas [shielded]) são normalmente empregadas para detecção de pequenas descontinuidades ou propriedades localizadas As sondas diferenciais são mais sensíveis que as absolutas Tem dificuldade de detectar descontinuidades planares paralelas a superfície ensaiada | ||
b) As sondas amplas são normalmente utilizadas para medir propriedades que se distribuem uniformemente pelo material ensaiado | ||
c) As sondas localizadas (pequenas, com núcleo [entreferro], ou isoladas [shielded]) são normalmente empregadas para detecção de pequenas descontinuidades ou propriedades localizadas | ||
d) As sondas diferenciais são mais sensíveis que as absolutas | ||
e) Tem dificuldade de detectar descontinuidades planares paralelas a superfície ensaiada | ||
14 |
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[Neo-CP] |
a) verdadeiro | ||
b) falso | ||
15 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) Sonda superficial | ||
b) Sonda interna ("bobbin") | ||
c) Sonda externa (encircling) | ||
d) Sonda absoluto-diferêncial | ||
16 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) Envolvente, simples, absoluta | ||
b) Interna, dupla, diferencial | ||
c) Superficial, simples, absoluta | ||
d) Interna, simples, diferencial | ||
17 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) Interna, simples, absoluta | ||
b) Interna, dupla, diferencial | ||
c) Envolvente, simples, diferencial | ||
d) nterna, dupla, diferencial | ||
18 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) Interna, simples, diferencial | ||
b) Interna, dupla, absoluta | ||
c) Envolvente, dupla, absoluta | ||
d) Envolvente, simples, diferencial | ||
19 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) Envolvente, dupla, diferencial | ||
b) Interna, dupla, absoluta | ||
c) Interna, simples, diferencial | ||
d) Envolvente, simples, absoluta | ||
20 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) Envolvente, dupla, diferencial | ||
b) Interna, simples, absoluta | ||
c) Superficial, simples, diferencial | ||
d) Superficial, dupla, absoluta | ||
21 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) Envolvente, dupla, diferencial | ||
b) Envolvente, dupla, absoluta | ||
c) Superficial, simples, absoluta | ||
d) Superficial, simples, diferencial | ||
22 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) Envolvente, dupla, diferencial | ||
b) Envolvente, dupla, absoluta | ||
c) Superficial, simples, diferencial | ||
d) Superficial, simples, absoluta | ||
23 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) Envolvente, simples, diferencial | ||
b) Envolvente, dupla, absoluta | ||
c) Superficial, simples, diferencial | ||
d) Superficial, dupla, absoluta | ||
24 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) Envolvente, simples, diferencial | ||
b) Envolvente, dupla, absoluta | ||
c) Superficial, simples, absoluta | ||
d) Superficial, dupla, diferencial | ||
25 |
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[Neo-CP] |
a) Sondas rotativas para inspeção tubular (Rotating Probes (or tubing inspection) | ||
b) Sondas “Cruciformes” (Orthogonal Tangential Interleaved Coils, eliminação de sinais indesejados) | ||
c) Sondas matriciais ("Array Probes")) | ||
d) Sondas Tubulares ("Bobbin" probes | ||
26 |
![]() | [Neo-CP] |
a) verdadeiro | ||
b) falso | ||
27 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) verdadeiro | ||
b) falso | ||
28 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) amplificador [amplifier] | ||
b) gerador de onda [the wave generator] | ||
c) filtro [filter] | ||
d) acoplante [couplant] | ||
29 |
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[Neo-CP] |
a) com apenas o padrão de referência numa sonda [ with only the reference standard in one coil] | ||
b) com o padrão de referência numa sonda e uma amostra inaceitável na outra [with the reference standard in one coil and an unacceptable test specimen in the other coil] | ||
c) com o padrão de referência numa sonda e uma amostra aceitável na outra [with the reference standard in one coil and an acceptable test specimen in the other coil] | ||
d) apenas com uma amostra numa sonda with only the test specimen in one coil] | ||
30 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) barras, tubes e fios [rods, tubes and wire] | ||
b) placa quando inspecionada em todo seu volume [plate when volumetrically inspected] | ||
c) chapas e lâminas metalizadas [sheets and metalized foil] | ||
d) todos os outros [all of the others] | ||
31 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) 1,75 (175%) [1.75 (175%)] | ||
b) 0,50 (50%) [0.50 (50%)] | ||
c) 0,95 (95%) [0.95 (95%)] | ||
d) 0,25 (25%) [0.25 25%)] | ||
32 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) fator de enchimento [fill factor] | ||
b) diferença de fase [phase differentiation] | ||
c) lift-off [lift-off] | ||
d) efeito de borda [edge effect] | ||
33 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) minimizar o desgaste da sonda [minimize wear of the probe] | ||
b) reduzir a fadiga do operador [reduce operator fatigue] | ||
c) eliminar efeito de borda [eliminate edge effect] | ||
d) minimizar variações de lift-off [minimize lift-off variations] | ||
34 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) medir a espessura de revestimentos não condutores [measuring the thickness of nonconductive coatings] | ||
b) medir mudanças de permeabilidade [measuring permeability changes] | ||
c) medir variações de condituvidade [measuring conductivity changes] | ||
d) determinar a freqüência de excitação da sonda adequada para inspeção [determining proper test frequency] | ||
35 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) lift-off [lift-off] | ||
b) efeito de borda [edge effect] | ||
c) fill factor [fator de enchimento] | ||
d) diferença de fase [phase differentiation] | ||
36 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) lift-off [lift-off] | ||
b) fill factor [fator de enchimento] | ||
c) descriminação de fase [phase discrimination] | ||
d) efeito de extremidade [end effect] | ||
37 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) flui ao redor do diâmetro interno do tubo [flows around the inside diameter of the tubing] | ||
b) flui na direção longitudinal para dentro do tubo [flow in a longitudinal direction down the tubing] | ||
c) flui radialmente no tubo [flow radially in the tube] | ||
d) flui ao redor apenas do diâmetro externo do tubo [flow around only the outside diameter of the tubing) | ||
38 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) enrolamento absoluto [absolute winding] | ||
b) enrolamento secundário [secondary winding] | ||
c) enrolamento de fase [phase winding] | ||
d) nenhum das opções [none of the others] | ||
39 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) sondas externas (ou envolventes) somente [encircling coils only] | ||
b) B) sondas superficiais somente [probe coils only] | ||
c) sondas superficiais e sondas envolvente somente [probe and encircling coils only] | ||
d) sondas superficiais, sondas envolventes e internas [probe, encircling and inside diameter coils] | ||
40 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) induzir correntes parasitas na amostra ensaiada [induce eddy currents in the test specimen] | ||
b) detectar mudanças no fluxo de correntes parasitas [detect changes in the eddy current flow] | ||
c) induzir correntes parasitas na amostra ensaiada e detectar mudanças no fluxo de correntes parasitas [induce eddy currents in the test specimen and detect changes in the eddy current flow] | ||
d) produzir saturação magnética [provide DC saturation] | ||
41 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) sonda simples absoluta [single absolute coil] | ||
b) bobina diferencial [differential coil] | ||
c) sonda duplas absoluta [double absolute coil] | ||
d) bobina de saturação por correntes contínua [DC saturation coil] | ||
42 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) uma sonda superficial [a probe coil] | ||
b) uma sonda envolvente [an encircling coil] | ||
c) um enrolamento secundário [a secondary winding] | ||
d) nenhum dos demais [none of the others] | ||
43 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) ao enrolamento secundário [the secondary winding] | ||
b) ao enrolamento primário [the primary winding] | ||
c) tanto ao enrolamento primário como ao secundário dependendo do ajuste no controle do aparelho [either the primary or secondary winding depending on the setting of an instrument control] | ||
d) a ambos os enrolamentos, primário e secundário [both the primary and secondary coils] | ||
44 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) alarmes [alarms] | ||
b) tubo de raios catódicos (hoje tela dos aparelhos digitais) [cathode ray tube] | ||
c) dispositivo de armazenamento digital [digital data storage] | ||
d) papel litmus [litmus paper] | ||
45 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) sinais erráticos [erratic signals] | ||
b) um sinal mantido constante [a continuous, sustained signal] | ||
c) nenhuma mudança no sinal [no signal change] | ||
d) sinais excessivos [excessive signals] | ||
46 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) escolha adequada da frequência [proper choice of frequency] | ||
b) centralizando o tubo na bobina [centering the tubing in the coil] | ||
c) ajuste adequado da fase [proper adjustment of phase] | ||
d) todas as opções [all of the choices] | ||
47 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) insensibilidade relativa a variações de permeabilidade [its relative insensitivity to permeability variations] | ||
b) a habilidade em localizar a exata posição das descontinuidades [the ability to locate the exact position of discontinuities] | ||
c) variedade de descontinuidades superficiais e internas que podem ser detectadas [the variety of internal and surface discontinuities that may be detected] | ||
d) todos as opções [all of the others] | ||
48 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) uma área definida pelo tamanho da bobina da sonda [an area defined by the size of the probe coil] | ||
b) uma circunferência completa do produto [one complete circumference of the product] | ||
c) uma linha longitudinal do tamanho do comprimento do produto [one longitudinal line the length of the product] | ||
d) nenhuma das opções [none of the choices] | ||
49 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) medir a dureza de produtos de aço ferromagnéticos [measuring the hardness of ferromagnetic steel products] | ||
b) B) detecção de descontinuidades em materiais conformados na forma hexagonal [discontinuity detection in hexagonal and shaped material] | ||
c) C) detecção e localização precisa de descontinuidades superficiais [detecting and precisely locating surface discontinuities] | ||
d) inspeção de barras de cobre usadas em contatos elétricos [inspection of copper bus bars for electrical conductivity] | ||
50 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) osciloscópio ou tela [oscilloscope or display] | ||
b) ajuste da sensibilidade do ensaio [sensitivity setting] | ||
c) circuito do oscilador [oscillator circuit] | ||
d) ajuste de análise de modulação [modulation analysis setting] | ||
51 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) efeito de borda [edge effect] | ||
b) B) fator de enchimento [fill factor] | ||
c) C) efeito de extremidade [end effect] | ||
d) D) todas os demais [all the others] | ||
52 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) 0.5 (50%) [0.5 (50%)] | ||
b) B) 0.75 (75%) [0.75 (75%)] | ||
c) C) 0.25 (25%) [0.25 (25%)] | ||
d) D) 1.0 (100%) [1.0 (100%)] | ||
53 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) oscilador [oscillator] | ||
b) descriminação de fase [phase discriminator] | ||
c) filtro passa baixo [low-pass filter] | ||
d) filtro passa alto [high-pass filter] | ||
54 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) absolute [absolute] | ||
b) laminar [laminar] | ||
c) diferêncial [differential] | ||
d) sondas voadoras [flying probes] | ||
55 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) a mesma densidade de fluxo gerada pela bobina de ensaio [the same as the flux density generated by the test coil] | ||
b) menor que a densidade de fluxo gerada pela bobina de teste por causa das perdas por aquecimento [less than the flux density generates by the test coil because of heat losses] | ||
c) maior que a densidade de fluxo gerada pela bobina de ensaio [greater than the flux density generated by the test coil] | ||
d) menor que a densidade de fluxo gerada pela bobina de teste por causa da resistividade [less than the flux density generated by the test coil because of resistivity] | ||
56 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) variando a frequência de ensaio em uma dada faixa durante o teste [varying the test frequency over a given range during the test] | ||
b) observando o efeito do lift-off (distância sonda-peça) causada pelo revestimento [observing the lift-off effect caused by the coating] | ||
c) variando a corrente através da bobina de ensaio [varying the current in the test coil] | ||
d) ensaiando ambos os lados da peça [testing both sides of the specimen] | ||
57 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) diminuição da extensão do campo magnético e da penetração das correntes parasitas [decrease the magnetic field extension and eddy current penetration] | ||
b) diminuição da extensão do campo magnético, mas aumento da penetração das correntes parasitas [decrease the magnetic field extension but increase the eddy current penetration] | ||
c) aumento da extensão do campo magnético e da penetração das correntes parasitas [increase the magnetic field extension and eddy current penetration] | ||
d) aumento da extensão do campo magnético, mas diminuição da penetração das correntes parasitas [increase the magnetic field extension but decrease the eddy current penetration] | ||
58 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) ocorre apenas na peça sendo ensaiada [exists only in the test specimen] | ||
b) pode ocorrer apenas no enrolamento primário de uma sonda de correntes parasitas [can exist only in the primary winding of an eddy current coil] | ||
c) pode ocorrer apenas no secundário [can exist only in the secondary] | ||
d) pode ocorrer tanto no primário como no secundário de uma sonda de correntes parasitas [can exist in both the primary and secondary of an eddy current coil] | ||
59 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) sonda interna [bobbin coil] | ||
b) sonda envolvente [encircling coil] | ||
c) sonda rotativa [rotating coil] | ||
d) sonda com abertura [gap coil] | ||
60 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) sonda interna [bobbin coil] | ||
b) sonda envolvente [encircling coil] | ||
c) sonda rotativa [rotating coil] | ||
d) sonda com escudo [shielded coil] | ||
61 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) alumínio [aluminum] | ||
b) cobre [copper] | ||
c) aço [steel] | ||
d) plastico [plastic] | ||
62 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) amplitude [amplitude] | ||
b) fase [phase] | ||
c) frequência [frequency] | ||
d) qualquer uma ou uma combinação das demais opções listadas [any one or a combination of the other quantities listed] | ||
63 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) gerador de sinal [signal generator] | ||
b) medidor [meter] | ||
c) tela X-Y [X-Y display] | ||
d) registrador de papel [strip-chart recorder] | ||
64 |
![]() |
[Neo-CP] |
a) a uma sonda envolvente [an encircling coil] | ||
b) a cabos coaxiais [coaxial cable] | ||
c) todas as demais opções [all of the others] | ||
d) a sondas superficiais [a surface coil] | ||
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