No. |
Questões | [Ref] |
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Que tipo de sonda possui um corpo longo para permitir a inspeção em espaços restritos? [Which type of probe has a long slender housing to permit inspection in restricted spaces?]
|
[NDE-Ed] |
| a) Sondas Panqueca [Pancake probes] | ||
| b) Sondas Envolventes [Encircling probes] | ||
| c) Sondas Localizada [Pencil probes] | ||
| d) Sondas Deslizantes [Sliding probes] | ||
| 2 |
Sondas deslizantes normalmente são usadas em: [Sliding probes usually operate in the:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Modo de transmissão [Through-transmission mode] | ||
| b) Modo pulsado [Pulsed mode] | ||
| c) Modo de reflexão [Reflection mode] | ||
| d) Modo diferencial [Differential mode] | ||
| 3 |
Furos usinados são normalmente empregados para representar: [Drilled holes are commonly used to represent:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Pites [Pitting] | ||
| b) Trincas [Cracks] | ||
| c) Delaminações [Delaminations] | ||
| d) Nenhum dos demais [None of the above] | ||
| 4 |
_Fig04.png)
Quando utilizando as curvas de liftoff em um aparelho com apresentação do tipo plano de impedâncias para diferenciar entre vários materiais com alta condutividade elétrica, é melhor realizar o ensaio empregando uma: [When using the liftoff trace of an impedance plane instrument to distinguish between several materials with high electrical conductivity, it is best to test using a:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Alta frequência [High frequency] | ||
| b) Baixa frequência [Low frequency] | ||
| c) Frequência variável[Variable frequency] | ||
| d) Nenhuma das demais opções [None of the above] | ||
| 5 |
Quando uma sonda é aproximada de um material condutor não magnético, a reatância indutiva irá: [When a probe is brought near a conductive but nonmagnetic material, the coil's inductive reactance will:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Diminuir [Decrease] | ||
| b) Aumentar [Increase] | ||
| c) Não se alterar [Remain the same] | ||
| d)Não se alterar até que a sonda encoste no material [Remain the same until the probe touches the material] | ||
| 6 |
Uma sonda de inspeção de furo de rebites e seu acionador é empregada para inspecionar: [A bolt hole probe and scanner is used to inspect:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Superfície planas [Flat surfaces] | ||
| b) Furos [Holes] | ||
| c) Curvaturas [Radiuses] | ||
| d) Curvaturas e Furos [Radiuses and Holes] | ||
| 7 |
Defasagem: [Phase lag:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Aumenta com a profundidade da descontinuidade [Increase with discontinuity depth] | ||
| b) Diminui com a profundidade da descontinuidade [Decrease with discontinuity depth] | ||
| c) É o mesmo que ângulo de fase [Is the same as phase angle] | ||
| d) É o mesmo que o ângulo de separação entre o sinais de liftoff e de descontinuidades em um plano de impedâncias [Is the same as the angle separating the liftoff and flaw signals on an impedance plane] | ||
| 8 |
Quando uma sonda absoluta é aproximada de um material ferromagnético, a reatância indutiva da bobina irá: [When an absolute probe is brought near a ferromagnetic material, the inductive reactance of the coil will:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Permanecer inalterada [Remain unchanged] | ||
| b) Aumentar porque o material irá concentrar o campo magnético ao redor da bobina [Increase because the material will concentrate the magnetic field in and around the coil] | ||
| c) Siminuir porque o material irá concentrar o campo magnético ao redor da bobina [Decrease because the material will concetrate the magnetic field in and around the coil] | ||
| d) Diminuir porque o campo magnético da bobina será enfraquecido pelo material [Decrease because the magnetic field of the coil will be weakened by the material] | ||
| 9 |
Quando ensaiando para detectar descontinuidades subsuperficiais, a frequência de ensao deverá:
[When testing for subsurface flaws, the frequency should be:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Tão alta quanto possível [As high as possible] | ||
| b) Tão baixa quanto possível [As low as possible] | ||
| c) Calculada para produzir uma diferença de 90 graus entre o sinal de liftoff e da descontinuidade [Calculated to produce a 90o difference between the liftoff and flaw signals] | ||
| d) Nenhum dos demais [None of the others] | ||
| 10 |
Qual a relação entre a condutividade e a resistividade elétrica?
[What is the relationship between electrical conductivity and electrical resistivity?]
|
[NDE-Ed] |
| a) Eles são diretamente proporcionais [They are directly proportional] | ||
| b) Um é o inverso do outro [One is the inverse of the other] | ||
|
c) Eles não são relacionados [They are not related]
|
||
| d) Isso depende da frequência de ensaio [It depends on the test frequency] | ||
| 11 |
Na maioria dos casos, os procedimento de inspeção por correntes parasitas necessitam de um aparelho para ser ajustado por:
[In almost all cases, eddy current inspection procedures require the equipment to be calibrated to:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Um defeito identico [An identified defect] | ||
| b) Uma trinca que é considerada o critério de rejeição [A crack which is considered the rejection criteria] | ||
| c) Um padrão de referência [A reference standard] | ||
| d) Uma trinca dobro do critério de rejeição [A crack twice the rejection criteria] | ||
| 12 |
Qual dos seguintes são padrões de referência comuns?
[Which of the following are a common eddy current reference standard?]
|
[NDE-Ed] |
| a) Padrões de condutividade [Conductivity standards] | ||
| b) Todos os demais [All of the others] | ||
| c) Tubo padrão com descontinuidades [Tube discontinuity standards] | ||
| d) Furos padrão com descontinuidades[Hole discontinuity standards] | ||
| 13 |
A maioria das sondas superficiais são enroladas de forma que: [Most surface probe coils are wound so that:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Eles transmite uma frequência que irá ressoar ligeiramente na superfície da peça [They transmit a frequency that will slightly resonate the part surface] | ||
| b) O eixo de enrolamento da bobina é perpendicular a superfície da peça [The axis of the coil is perpendicular to the test surface] | ||
| c) Criem um campo magnético estático [They create a static magnetic field] | ||
| d) Criem um campo magnético estático & O eixo de enrolamento da bobina é perpendicular a superfície da peça [They create a static magnetic field & The axis of the coil is perpendicular to the test surface] | ||
| 14 |
Descontinuidades, como delaminações, que estão orientadas em um plano que é paralela a superfície da pela se comportarão como:
[Discontinuities, such as delaminations, that are in a plane that is parallel with the test surface will likely:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Serão facilmente detectadas com uma sonda superficial [Be easily detected with a surface probe] | ||
| b) Serão facilmente detectadas por uma sonda interna [Be easily detected with an internal probe] | ||
| c) Nenhum dos demais [None of the others] | ||
| d) Serão facilmente detectadas por uma sonda envolvente [Be easily detected with an external probe] | ||
| 15 |
Filtragem é aplicada aos sinais de recepção e portanto: [Filtering is applied to the received signal and, therefore:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Não está diretamente relacionada a frequência de excitação da sonda [It is not directly related to the probe drive frequency] | ||
| b) Deve ser adicionada ao sinal base [It should be added to the base signal] | ||
| c) Deve ser adicioanda a sonda receptora [Should be added to the pick-up coil] | ||
| d) Deve ser subtraida da amplitude do sinal em dB [Should be subtracted from the amplitude of the dB] | ||
| 16 |
Que tipo de sonda é normalmente empregada na inspeção de produtos solidos como uma barra?
[Which type of probe is most commonly sued to inspect solid products such as bar stock?]
|
[NDE-Ed] |
| a) Sonda envolvente [Encircling coils] | ||
| b) Sonda interna [Bobbin probes] | ||
| c) Sonda superficial localizada [Pencil probes] | ||
| d) Sonda superficial [Surface coils] | ||
| 17 |
Que tipo de sonda é mais frequentemente empregada na inspeção de diâmetros internos de furos usinados?
[Which type of probe is most often used to inspect the inside diameter of a machined hole?]
|
[NDE-Ed] |
| a) Sondas superficial localizada [Pencil probes] | ||
| b) Sondas de inspeção de furo de rebites [Bolt hole probes] | ||
| c) Sondas superficiais [Surface probes] | ||
| d) Sondas internas [Bobbin probes] | ||
| 18 |
Soondas que podem ser usadas para inspecionar a circunferência total de um objeto ensaiado:
[A probes that can be used to inspect the entire circumference of test objects are:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Sondas circunferênciais [Circumference probes] | ||
| b) Sondas superficiais localizadas [Pencil probes] | ||
| c) Sondas envolventes ou internas [Encircling or bobbin probes] | ||
| d) Nenhuma das demais [None of the above] | ||
| 19 |
A profundidade de penetração é afetada por: [The depth of penetration is affected by:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Permeabilidade magnética [Magnetic permeability] | ||
| b) Resistividade elétrica [Electrical resistivity] | ||
| c) Todas as demais [All of the above] | ||
| d) Frequência de excitação da sonda [Probe drive frequency] | ||
| 20 |
Permeabilidade relaativa é: [Relative permeability is:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Uma unidade adimensional [A unitless value] | ||
| b) Uma unidade adimensional & A razão entre a permeabilidade medida e a permeabilidade do vacuo [A unitless value & The ratio of the measured permeability and the permeability in a vacuum] | ||
| c) A razão entre a permeabilidade medida e a permeabilidade do vacuo [The ratio of the measured permeability and the permeability in a vacuum] | ||
| d) A permeabilidade do vacuo [The permeability in a vacuum] | ||
| 21 |
Visto que os sinais de correntes parasitas são afetados por diferentes variáveis, é particularmente importante o usar quando ajustando os parâmetros do ensaio no aparelho?
[Since eddy current signals are affected by many different variables, it is particularly important to use what when setting up the equipment?]
|
[NDE-Ed] |
| a) Acoplante [Couplant] | ||
| b) Partículas fluorescentes [Fluorescent particles] | ||
| c) Padrões de referência [Reference standards] | ||
| d) Solventes não abrasivos [Non abrasive cleaners] | ||
| 22 |
A velocidade de varredura deve ser controlada: [Scanning speed must be controlled:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Usando um filtro passa alto [When using a high pass filter] | ||
| b) Quando empregando um transdutor pequeno [When using a small transducer] | ||
| c) Quando usando um grande transdutor [When using a large transducer] | ||
| d) Quando empregando uma sonda grande e de baixa frequência [When using a large low frequency probe] | ||
| 23 |
Quando fazendo medida de condutividade, a espessura do material deve ser pelo menos ____ vezes a profundidade padrão de penetração.
[When making a conductivity measurement, the thickness of the material should be at least ___ times the standard depth of penetration.]
|
[NDE-Ed] |
| a) 1 [1] | ||
| b) 3 [3] | ||
| c) 2 [2] | ||
| d) 4 [4] | ||
| 24 |
O principal propósito do núcleo de ferro de uma sonda é: [The main purpose of an iron core in a probe is to:}
|
[NDE-Ed] |
| a) Distorcer a transmissão da corrente parasita para diminuir a penetração [Shift the transmission of eddy currents in order to decrease penetration] | ||
| b) Permitir a sonda operar em maiores frequências [Allow the probe to operate at a higher frequency] | ||
| c) Permitir o ensaio de materiais muito densos [Allow testing of very dense materials] | ||
| d) Concentrar o campo magnético próximo ao centro da sonda [Concentrate the magnetic field near the center of the probe] | ||
| 25 |
Um circuito do ensaio de correntes parasitas deverá ter: [An eddy current test circuit will have:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Resistência [Resistance] | ||
| b) Reatância indutiva [Inductive reactance] | ||
| c) Uma pequena quantidade de capacitância [A small amount of capacitance] | ||
| d) Todos os demais [All of the above] | ||
| 26 |
HPF significa: [HPF stands for:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Filtro Pulso Alto [High Pulse Filter] | ||
| b) Filtro Pulso Harmônico [Harmonic Pulse Filter] | ||
| c) Filtro Passa Alto [High Pass Filter] | ||
| d) Filtro Pulso Alto [High Pulse Factor] | ||
| 27 |
Sondas superficiais amplas são empregadas quando varrendo: [Wide surface probes are used when scanning:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Grandes áreas para detectar trincas muito pequenas [Large areas for very small cracks] | ||
| b) Pequenas áreas para detectar delaminações [Small areas for delaminations] | ||
| c) Nenhum dos demais [None of the above] | ||
| d) Grandes áreas para detectar defeitos relativamente grandes [Large areas for relatively large defects] | ||
| 28 |
Algumas classificações comuns de sondas deve incluir: [Some common classifications of probes include:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Sondas superficiais [Surface probes] | ||
| b) Sondas de furos de rebites [Bolt hole probes] | ||
| c) Sondas internas [ID probes] | ||
| d) Todas as demais [All of the above] | ||
| 29 |
Indutância é causada por: [Inductance is caused by:]
|
[NDE-Ed] |
| a) A interação do campo magnético variável com o condutor [The interaction of a changing magnetic field with a conductor] | ||
| b) Corrente contínua [Direct current] | ||
| c) Resistência da bobiana [Resistance in the coil] | ||
| d) Nenhum dos demais [None of the above] | ||
| 30 |
Uso do HPF não é recomendável [Use of the HPF is not recommended:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Em peças finas [On thin parts] | ||
| b) Quando executanda a varredura manual [When scanning manually] | ||
| c) Em peças espessas [On thick parts] | ||
| d) Em peças ferrosas [On ferrous parts] | ||
| 31 |
Sondas superficiais são particularmente sensíveis a: [Pencil probes are prone to:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Surtos de energia [Energy spikes] | ||
| b) Ruído de baixa frequência [Low frequency noise] | ||
| c) Oscilação/Vibração [Wobble] | ||
| d) Surtos de energia & Oscilação/Vibração[Energy spikes & Wobble] | ||
| 32 |
Quando empregando correntes parasita para medir a espessura de um revestimento não condutor aplicado a uma base condutora, a medição é baseada em:
[When using eddy currents to measure the thickness of a nonconductive coating applied to a conductive base, the measurement is based on:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Uma mudança da frequência devido ao liftoff [A frequency change due to liftoff] | ||
| b) Uma mudança na impedância devido a mudança na condutividade [An impedance change due to a change in conductivity] | ||
| c) Uma mudança na impedância devio ao liftoff [An impedance change due to liftoff] | ||
| d) Uma mudança na frequência devido a mudança no liftoff & Uma mudança na impedância devido ao liftoff] [A frequency change due to liftoff & An impedance change due to liftoff] | ||
| 33 |
Sondas deslizantes são usadas para ensaiar: [Sliding probes are used to test:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Ao redor dos contornos de furos com parafusos [Around the edges of fasteners] | ||
| b) Superfícies planas grandes [Large flat surfaces] | ||
| c) Dentro de furos de rebites [Inside bolt holes] | ||
| d) Em curvaturas de peças [In radiuses] | ||
| 34 |
Os princípios de operação da maioria dos instrumentos comuns de correntes parasitas são baseados em:
[The principles of operation of the most commonly used eddy current instruments are based on:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Fórmulas de Roentgen [Roentgen's formulas] | ||
| b) Ponte de indutâncias de Maxwell [Maxwell's inductance bridge] | ||
| c) Reciprocidade [Reciprocity] | ||
| d) Lei do inverso dos quadrados [The Inverse Square Law] | ||
| 35 |
Sondas com núcleo de ferro tendem a:
[Probes with iron cores tend to:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Serem mais sensíveis que sondas sem núcleo e menos afetadas por vibrações [Be more sensitive than air core probes and less affected by probe wobble] | ||
| b) Seram mais difíceis de usar [Be more difficult to use] | ||
| c) Aumentar o ruído de fundo do sinal [Increase the background noise of the signal] | ||
| d) Serem mais difíceis de usar & Aumentarem o ruído de fundo do sinal [Be more difficult to use & Increase the background noise of the signal] | ||
| 36 |
Filtros são ajustados em: [Filters are adjusted in:]
|
[NDE-Ed] |
| a) kHz [KHz] | ||
| b) Hz [Hz] | ||
| c) MHz [MHz] | ||
| d) THz[THz] | ||
| 37 |
A indutância é identificada pela letra: [Inductance is identified by the letter:]
|
[NDE-Ed] |
| a) L [L] | ||
| b) M [M] | ||
| c) Z [Z] | ||
| d) X [X] | ||
| 38 |
A principal função do filtro passa baixo é: [The main function of the LPF is to:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Controlar a vibração da sonda [Control probe wobble] | ||
| b) Remover a interferência dos ruidos de alta frequência [Remove high frequency interference noise] | ||
| c) Ajustar o aparelho para o padrão de condutividade apropriado [Adjust the machine to the proper conductivity standard] | ||
| d) [Shift the waveform to the left of the screen] | ||
| 39 |
Que característica do componente ensaiado deve ser semelhante a do padrão de referência [Which component features should be similar to the reference standard?]
|
[NDE-Ed] |
| a) Espessura do material [Material thickness] | ||
| b) Geometria do material [Material geometry] | ||
| c) Todos os demais [All of the above] | ||
| d) Condutividade do material [Material conductivity] | ||
| 40 |
A bobina de uma sonda do ensaio de correntes parasitas é frequentemente fabricada com [The coil in an eddy current probe is most often made from:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Ferro [Iron] | ||
| b) Cobre [Copper] | ||
|
c) Prata [Silver]
|
||
| d) Platina [Platinum] | ||
| 41 |
Quanto maior a frequência da corrente utilizada na exitação da sonda,:
[The higher the frequency of the current used to drive the probe, the:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Mais profundamente a corrente parasita irá penetrar no material [Deeper the eddy currents will penetrate] | ||
| b) Mais intenso o campo magnético produzido será [Stronger the probe's magnetic field will be] | ||
| c) Mais efetivo isolamento existirá devido ao fenômeno de pele [More effective shielding will be due to skin effect] | ||
| d) Mais profundo a corrente parasita irá penetrar & Mais efetivo o isolamento existirá devido ao fenômeno de pele [Deeper the eddy currents will penetrate & More effective shielding will be due to skin effect] | ||
| 42 |
Quanto maior a indutância de uma bobina para uma dada frequência: [The higher the inductance of a coil at a given frequency:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Mais penetrante a corrente parasita será [The more penetrating the eddy currents will be] | ||
| b) Mais sensível a bobina será [The more sensitive the coil will be] | ||
| c) Menos sensível a bobina será [The less sensitive the coil will be] | ||
| d) Nenhuma das demais [None of the above] | ||
| 43 |
Correntes parasitas podem ser empregadas para: [Eddy current testing can be used to:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Detectar trincas superficiais e sub superficiais [Detect surface and near surface cracks] | ||
| b) Detectar trincas superficiais e próximas da superfície & Medir a condutividade elétrica [Detect surface and near surface cracks & Measure electrical conductivity] | ||
| c) Medir a condutividade elétrica [Measure electrical conductivity] | ||
| d) Medir a espessura de revestimento não condutores sobre plásticos [Measure the thickness of nonconductive coatings on plastics] | ||
| 44 |
O Filtro Passa Alto é empregado em: [The HPF is used to:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Ajustar a largura de banda para uma frequência neutra de forma a maximizar a penetração [Adjust the bandwidth to a neutral frequency in order to maximize depth of penetration] | ||
| b) Remover as ondas fixas do sinal de saída [Remove any standing waves in the output signal] | ||
| c) Eliminar os ruídos de baixa frequência que são produzidos por mudanças lentas, como as variações de condutividade [Eliminate low frequencies which are produced by slow changes, such as a conductivity shift] | ||
| d) Mudar a forma de onda de positiva para negativa quando um defeito reprovável é identificado [Shift the waveform from positive to negative when a rejectable defect is identified] | ||
| 45 |
Quando manter constante o liftoff é um problema, que tipo de sonda deve ser empregada?
[When maintaining constant liftoff is a problem, what type of probe should be used?]
|
[NDE-Ed] |
| a) Uma sonda diferencial [A differential probe] | ||
| b) Uma sonda absoluta [A absolute probe] | ||
| c) Uma sonda reflexiva [A reflection probe] | ||
| d) Uma sonda reflexiva & Uma sonda absoluta [A reflection probe & A absolute probe] | ||
| 46 |
Isolamento da sonda é empregado para: [Probe shielding is used to:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Reduzir os efeitos de características não relevantes nas proximidades da sonda [Reduce the effects of nonrelevant features in close proximity to the probe] | ||
| b) Conformar as correntes parasitas de acordo com a curvatura da peça [Shape the eddy currents to the curvature of the part] | ||
| c) Reduzir o acoplamento indutivo entre sonda e peça [Reduce the inductive coupling of the probe and part] | ||
| d) Aumentar a indutância da sonda [Increase the probe impedance] | ||
| 47 |
Que tipo(s) de material(is) é(são) comumente empregados para isolar a sonda de correntes parasitas? [What material(s) is/are commonly used to shield an eddy current probe?]
|
[NDE-Ed] |
| a) Ferro puro [Ferrite] | ||
| b) Ferro puro & Alumínio [Ferrite & Aluminum] | ||
| c) Alumínio [Aluminum] | ||
| d) Chumbo [Lead] | ||
| 48 | Quando inspecionado para detectar descontinuidades superficiais, a frequência de excitação da sonda usada: [When testing for surface flaws, the probe drive frequency used:] | [NDE-Ed] |
| a) Deve ser tão baixa quanto possível [Should be as low as possible] | ||
| b) Depende da condutividade e permeabilidade do material [Depends on the conductivity and permeability of the material] | ||
| c) Deve ser tão alta quanto possível [Should be as high as possible] | ||
| d) Depende apenas da condutividade do material [Depends only on the material conductivity] | ||
| 49 |
O isolamento e o uso de núcleo da sonda são algumas vezes empregados para: [Probe shielding and loading are sometimes used to:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Previnir a ocorrência de interferência elétrica externa [Prevent external electrical interference] | ||
| b) Saturar magneticamente a peça ensaiada [Magnetically saturate the part] | ||
| c) Limitar o espalhamento e concentrar o campo mangético da bobina [Limit the spread and concentrate the magnetic field of the coil] | ||
| d) Nenhuma dos demais [None of the above] | ||
| 50 |
Sondas para inspeção de tubos são tipicamente do tipo: [Probes for inspection of pipe and tubing are typically of the:]
|
[NDE-Ed] |
| a) do tipo superficial [Surface probe variety] | ||
| b) do tipo interna [Bobbin (ID) variety] | ||
| c) do tipo de inspeção de furos [Bolt hole variety] | ||
| d) de todos os tipo citados [All of the above are correct] | ||
| 51 |
Correntes Parasitas são geradas quando: [Eddy currents are generated when:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Um material não condutor é posicionado em um campo magnético estático [A non conductive material is placed in a static magnetic field] | ||
| b) Quando um material não condutor é movimentado através de um campo magnético estático [When a non conductive material is moved through a static magnetic field] | ||
| c) Nenhum dos demais [None of the others] | ||
| d) Quando um campo magnético estático é movimentado sobre a superfície de um material não condutor [When a static magnetic field is moved across the surface of a non conductive material] | ||
| 52 |
Correntes parasitas são geradas qunado: [Eddy currents are generated when:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Todas as demais [All of the above] | ||
| b) Um material condutor é colocado em um campo magnético variável [A conductive material is placed in a changing magnetic field] | ||
| c) Quando um material condutor é movimentado em um campo magnético estático [When a conductive material is moved through a static magnetic field] | ||
| d) Quando um campo magnético estático é movimentado próximo a superfície dew um material condutor [When a static magnetic field is moved across the surface of a conductive material] | ||
| 53 |
Entalhes estreitos usinados por eletroerosão e serras: [Narrow EDM notches and saw cuts:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Nunca são usados devido a sua grande abertura [Nunca Are never used because they are too wide] | ||
| b) São normalmente usados para simular trincas [Are commonly used to represent cracks] | ||
| c) Não são empregados devido a sua zona afetada pelo calor [Are never used due to their heat affected zones] | ||
| d) Ambas A e C [Both A and C] | ||
| 54 |
LPF significa: [LPF stands for:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Pulso de Baixa Frequência [Low Pulse Frequency] | ||
| b) Filtro Passa Último [Last Pass Filter] | ||
| c) Frequência Passa Baixo [Low Pass Frequency] | ||
| d) Filtro Passa Baixo [Low Pass Filter] | ||
| 55 |
O filtro passa alto permite: [The HPF allows:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Passar baixas frequências e filtra frequências altas [Low frequencies to pass and filters out the high frequencies] | ||
| b) Combinar as frequências ajustadas parea um balanço harmônico [For the combined frequencies to be adjusted to a harmonic balance] | ||
| c) A forma de onda a ser retida além da frequência de balanço [The shape of the waveform to be clipped beyond it frequency balance] | ||
| d) Passar altas frequências e filtra baixas frequências [High frequencies to pass and filters out the low frequencies] | ||
| 56 |
Uma sonda que frequentemente é projetada para ser usada em contato com a superfície da peça ensaiada é chamada: [A probe that is often intended to be used in contact with the test surface is called a:]
|
[NDE-Ed] |
| a) Sonda de referência[Reference probe] | ||
| b) Sonda de transmissão [Transmission probe] | ||
| c) Sonda superficial[Surface probe] | ||
| d) Sonda reflexiva [Reflection probe] | ||