PB_00 - Capítulo 5 - Análise de Fase - Página 5-105

traduzido do livro: https://ntrs.nasa.gov/citations/19780078298

 

Excelente! Você entendeu o conceito que é também extremamente relevante. Como inspetor, você estará olhando para o mostrador (Tela, CRT). Sua tarefa será interpretar a apresentação. É importante perceber que esta apresentação mudará à medida que as mudanças ocorrem nas amostras de ensaio que passam pela bobina de ensaio. Você acabou de ver que o mostrador (tela) pode estar centralizado com um valor mínimo no cursor ou com um valor máximo na cursor. Também pode ser algum valor entre esses dois valores. Uma modificação na apresentação do osciloscópio (CRT) pode ser alterada pela amostra ou pelo controle de fase. Qualquer um mudará a apresentação. Uma vez que o controle de fase é definido inicialmente, as alterações são normalmente causadas pela amostra. Essas mudanças de amostra produzem uma mudança de fase que é aplicada às placas verticais do osciloscópio (CRT). O resultado é uma mudança de fase na tela (CRT).







As figuras A e B ilustram duas apresentações possíveis na tela (CRT), usando o método de tempo-base linear baseado na análise de fase. A exibição pode ser alterada da figura A para a figura B por:

...... Mudando o controle de fase no aparelho de tempo-base linear.

...... Mudando a fase da voltagem aplicada as placas de deflexão vertical do osciloscópio (CRT).

...... Tanto pela mudança do controle de fase do aparelho ou pela mudança do fase da voltagem aplicada as placas verticais do osciloscópio.

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